ECLIPSE Ti2實現了*的25mm視野（FOV），*改變您的觀察方式。憑借突破性的大視野，Ti2可以隨心所欲地利用大靶面CMOS相機的傳感器區域，并顯著提高了數據采集量。
經過多年的技術創新與光學上的完善，賦予尼康新一代Eclipse Ni-E正置研究顯微鏡革命性的模塊化設計，功能擴展變得如此簡單也可精準的搭配出各類定制系統。全新CFI平場復消色差Lambda物鏡，尼康的納米晶體鍍層技術保證了更高的透過率呈現更加明亮更高分辨率的圖像。
憑借久經考驗的光學和機械設計技術，尼康推出了結構緊湊的高性能ECLIPSE Ci 系列正置科研顯微鏡。通過高品質的物鏡與的落射熒光附件，可呈現明亮的高對比度熒光圖像。當顯微鏡與尼康Digital Sight 系列相機配合使用時，標本拍攝變得輕松高效。此外，還可以加裝新研發的高亮度LED 照明裝置并具有多種電動部件，具備出色的人體工學設計，使觀察與拍照都可以保持舒適的姿勢。
可實現精確的亞納米表面輪廓非接觸式測量。 尼康*的掃描式光學干涉測量技術實現了1皮米（pm）的高度分辨率。尼康提供多種光學顯微鏡作為測量系統，以適應廣泛的測量應用。
CFI P Achromat 物鏡（透過照明用，適用于帶蓋玻片的樣品觀察） 尼康*的CFI60 物鏡具有長工作距離和高數值孔徑，可獲得銳利的無色差圖像，實現高性價比。物鏡使用不含鉛、砷等有害物質的環保玻璃制作而成。
